Скануючий електронний мікроскоп (СЕМ) дозволяє виявляти різні структури на нанометровому рівні. Завдяки високороздільній здатності СЕМ можна спостерігати поверхні матеріалів і досліджувати їхню морфологію, структуру та компоненти.

Щодо методу мічених атомів, це техніка дослідження структури матеріалів, яка ґрунтується на спостереженні за розташуванням і атомними аранжуваннями атомів на поверхні. Він використовує різницю в енергії вторинних електронів, які вибиваються з поверхні матеріалу під дією пучка електронів. Метод дозволяє отримувати високороздільні зображення атомів на поверхні твердих тіл, що дозволяє вивчати їхню структуру на атомному рівні.